Rigaku SmartLab

  • Система последовательной дисперсионной рентгеновской спектроскопии с детектором для анализа по длине волны
  • Полностью автоматический рентгеновский дифрактометр (XRD) характеризации тонких пленок, наноматериалов и порошков с горизонтальным расположением исследуемого образца. Может применяться для определения различных параметров тонких пленок: композиционный анализ, анализ направления и ориентации, определение кристалличности, характеризация релаксации решетки, определение деформаций и остаточных напряжений решетки, анализ толщины пленки, шероховатости интерфейса, анализ плотности пленки, определение однородности в плоскости и т.д.
  • Встроенный режим малоуглового рентгеновского рассеивания (SAXS) для экспериментально-расчетного анализа распределения по размерам наночастиц жидких дисперсий, экспериментально-расчетного анализа распределения по размерам наночастиц и пор тонких пленок и внутри массивных образцов, определения формы наночастиц и пор, экспериментально-расчетный анализ корреляционной функции распределения нерегулярной электронной плотности и т.д.
  • Рентгеновская трубка: Cu, мощность 3 кВт,9 кВт (с вращающимся анодом)
  • Мощность генератора: 9 кВт
  • Геометрия гониометра: Вертикальный, Тета –Тета
  • Радиус гониометра: 300 мм
  • Минимальный шаг 2 Тета: 0,0001°
  • Щели расходимости: Автоматические до 20 мм
  • Юстировка рентгеновской оптики: Автоматическая

к списку