Hitachi HF-3300

  • Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией
  • Электронный микроскоп со свех-критическим разрешением — менее 0,1 нм.
  • Ускоряющее напряжение 300 kV 
  • Разрешение до 0.1нм
  • Увеличение: х200 — х500 и в высоком разрешении —  х2 000 — х1 500 000
  • Спектроскопия характеристических потерь энергии электронами
  • Специальный держатель, для возможности переноса на ФИП без извлечения образца с подложки
  • 5-ти осевое перемещения образца, включая возможность наклона образца ±15°

к списку