Jeol JSM-7800F

  • Сканирующий электронный микроскоп
  • Сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки Супер Гибридной Линза (SHL) для экстремально высокого разрешения
  • Разрешение: до 0.8нм
  • Увеличение: От ×25 до ×1 000 000 (SEM)
  • Ускоряющее напряжение: От 0.01кВ до 30кВ
  • Предметный столик 5-осевой: X: 70мм, Y: 50мм, наклон от -5 до +70°, вращение на 360°
  • Микроскоп оборудован 4-мя типами детекторов: Верхний детектор электронов (UED), верхний детектор вторичных электронов (USD), детектор обратно-рассеянных электронов (BED), и нижний детектор электронов (LED). UED. Энергетический фильтр позволяет выбирать энергию улавливаемых электронов, что позволяет управлять соотношением между вторичными и обратно-рассеянными электронами в регистрируемом сигнале.      USD улавливает электроны низких энергий, отраженные от энергетического фильтра.     BED позволяет ясно наблюдать контраст каналирования, регистрируя малоугловые обратно-рассеянные электроны.  LED позволяет формировать псевдо 3Д изображение, демонстрирующие шероховатость поверхности, используя эффект освещения.

к списку

Scroll Up

ООО «СКТО ПРОМПРОЕКТ» обязуется не распространять и не передавать персональные данные третьим лицам.