Jeol JIB-4600FMultibeam

  • Двухлучевая ионно-электронная система
  • Гибридная система, сочетающая в себе высокоразрешающий РЭМ и систему со сфокусированным ионным пучком для микротравления (послойное травление образцов).
  • РЭМ позволяет позиционировать ионный пучок в место травления с высокой точностью и визуализировать процесс травления с разрешением до 1.2 нм.
  • Благодаря высокому току зонда (до 200 нА), прибор позволяет эффективно использовать приставки для микроанализа (ЭДС, ДОРЭ)
  • Разрешение:1.2нм – электронная колонна и 5 нм в ФИП
  • Максимальный ток ионов 30 нA
  • Увеличение x50 – x1,000,000
  • Столик образцов: гониометрический (X: 50 мм, Y: 50 мм, Z: 1,5-40 мм)
  • Аналитические приставки и опции

– система энергодисперсионного микроанализа

– система анализа дифракции отражённых электронов – система спектрального анализа катодолюминесценции

к списку

Scroll Up

ООО «СКТО ПРОМПРОЕКТ» обязуется не распространять и не передавать персональные данные третьим лицам.