ACCRETECH /TOKYO SEIMITSU CO/

  Японская компания ACCRETECH (Tokyo Seimitsu) основана в 1949 году. Компания занимается научными исследованиями и производством оборудования для полупроводниковой промышленности. В линейке оборудования представлены зондовые станции, профилометры, системы автоматической очистки и резки пластин.

В сфере продаж высокоточных измерительных систем в Европе ACCRETECH с 1995 года сотрудничает с компанией ZEISS.  


ACCRETECH UF190R, ACCRETECH UF200R       

  • Электрические измерения в полупроводниковой промышленности
  • UF190R: Пластины 100-200мм, UF200R: Пластины 125-200мм
  • Передача коробления и сверхтонкой пластины с помощью специального механизма передачи. СРМС передача с помощью специального механизма
  • Функция проверки и автоматического выравнивания иглы  

далее


ACCRETECH FP2000

  • Электрические измерения в полупроводниковой промышленности
  • Пластины от 5″ до 8″
  • Передача коробления и сверхтонкой пластины с помощью специального механизма передачи. СРМС передача с помощью специального механизма
  • Функция проверки и автоматического выравнивания иглы 

далее


ACCRETECH UF2000

  • Электрические измерения в полупроводниковой промышленности
  • Пластины от 5″ до 8″
  • Передача коробления и сверхтонкой пластины с помощью специального механизма передачи. СРМС передача с помощью специального механизма
  • Функция проверки и автоматического выравнивания иглы

далее


ACCRETECH UF3000EX-e

  • Электрические измерения в полупроводниковой промышленности.
  • Пластины 8″ или 12″
  • Передача коробления и сверхтонкой пластины с помощью специального механизма передачи. СРМС передача с помощью специального механизма
  • Функция проверки и автоматического выравнивания иглы

далее


ACCRETECH SURFCOM NEX DX/SD/FX

  • Лазерно-интерферометрическая измерительная система
  • Контроль шероховатости и профиля геометрических поверхностей
  • Перемещение по X-оси: 100 или 200 мм
  • Перемещение вверх/вниз по Z-оси: 250, 450 или 650 мм

далее


ACCRETECH SURFCOM 5000DX

  • Лазерно-интерферометрическая измерительная система
  • Контроль шероховатости и профиля геометрических поверхностей
  • Системное разрешение стилуса: 0,31 нм / 50 мм
  • Соотношение между диапазоном измерения и разрешением: 43 333 000 : 1

далее


ACCRETECH SURFCOM CREST DX/SD

  • Лазерно-интерферометрическая измерительная система
  • Контроль шероховатости и профиля геометрических поверхностей
  • Системное разрешение стилуса: 0,31 нм / 50 мм
  • Ошибка прямолинейности: по X-оси 0,11 мкм с измерительным трактом 200 мм

далее


ACCRETECH SURFCOM C5

  • Лазерно-интерферометрическая измерительная система
  • Контроль шероховатости и профиля геометрических поверхностей
  • Угол поворота: 0°, 90°, 180°, 270°
  • Диапазон измерения / разрешение (ось Z): 500 мм / 0,1 мкм

далее

Scroll Up

ООО «СКТО ПРОМПРОЕКТ» обязуется не распространять и не передавать персональные данные третьим лицам.