SCIENTA OMICRON UHV SPM / XPS / UPS / MBE

• Комбинированная система
• Характеристики в процессе обработки вакуумом:
• Высокое переменное температурное разрешение микроскопии и спектроскопии
• Органический тонкий рост пленки при хорошо контролируемых условиях
• Электронные и пространственные исследования новых материалов для солнечной энергетики

к списку