FEI  NOVANANO SEM

СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

Микроскопы линейки NovaNanoSEM отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.

Для расширения аналитических возможностей микроскоп может быть оснащен энергодисперсионным (EDS), волнодисперсионным спектрометрами (WDS), а также EBSD-системой, что  позволяют проводить качественный, количественный, фазовый и структурный анализ материала.

Nova NanoSEM 450 & 650
Разрешение, высокий вакуум	15 кВ (TLD) 1 кВ (TLD, без BD)   100 В (DBS)   15 кВ, 5 нA	1.0 нм 1.4 нм 3.5 нм 3.0 нм
Разрешение, низкий вакуум	3 кВ и 30 Па (Helix)	1.8 нм
Ток луча	До 200 нA
Диапазон напряжения на образце	От 20 В до 30 кВ
Столик	X x Y x Z (мм)	110 x 110 x 25 150 x 150 x 10

к списку