НОВЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЯ

Универсальный микроскоп: Революционная конструкция объектива Apreo сочетают в себе электростатический и магнитный методы погружения для получения высочайшего разрешения и выбора сигнала. Уникальная система детектирования, режим низкого вакуума при высоком давлении, а также смарт-сканирование предлагают множество вариантов для решения сложных задач. Такая универсальность делает Apreo популярной платформой для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств без ущерба для магнитных свойств образцов.

далее

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ (ДВУХЛУЧЕВОЙ) МИКРОСКОП С КРИО-ВОЗМОЖНОСТЯМИ

Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific — это электронный двулучевой микроскоп, предназначенный для изготовления ламелей с целью их последующего исследования в ПЭМ (TEM) методом крио-томографии. Фокусированный ионный пучок микроскопа Aquilos ™ Cryo-FIB (Thermo Scientific ™) позволяет точно контролировать толщину образца и изготавливать ламели для криотомографии in situ. Микроскоп имеет встроенный, вращающийся крио-столик и крио-систему, которая защищает замороженные гидратированные образцы от загрязнения, гарантируя, что тонкие образцы  будут храниться при низкой температуре (<-170 ° C) в любое время.

Семейство продукции Thermo Scientific Helios G4 DualBeam заставляет переосмыслить стандарт подготовки образца и определения трехмерных характеристик посредством наиболее продвинутых показателей фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденного уровня автоматизации и удобства в применении.

далее

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ (ДВУХЛУЧЕВОЙ) МИКРОСКОП

Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.

В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.

далее

СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

Линейка микроскопов Inspect™ включает два сканирующих электронных микроскопа:

Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом

Inspect F — сканирующий электронный микроскоп с источником электронов с полевой эмиссией (автоэмиссионный катод Шоттки).

Inspect S (с вольфрамовым катодом) — имеет высокий и низкий вакуум, идеален для проведения рутинных исследований в промышленных условиях.

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ (ДВУХЛУЧЕВОЙ) МИКРОСКОП

Академические и промышленные исследовательские лаборатории рассчитывают, что современный SEM должен иметь возможность получать большинство данных из самых разных образцов с отличным качеством изображения. Поскольку большинство лабораторий являются многопользовательскими объектами, простота использования имеет первостепенное значение для того, чтобы все данные были доступны для операторов различных уровней подготовки.

далее

СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

Микроскопы линейки NovaNanoSEM отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.

далее

СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

Prisma EX SEM — это современное, гибкое решение для текущих и будущих исследовательских приложений. Обладая тремя режимами изображения: высоким вакуумом, низким вакуумом и режимом ESEM ™, он обеспечивает широкий диапазон исследований различных по своей природе образцов. Работа с образцом завершается быстрым и точным анализом элементов, предоставляемым детектором EDS UltraDry ™ и программной платформой Pathfinder.

далее