JEOL


Jeol JEM-2200FS

  • Просвечивающий электронный микроскоп
  • Новейший аналитический микроскоп, оснащенный катодом с полевой эмиссией, имеет встроенный в колонну энергетический фильтр (Омега фильтр), который позволяет получать четкие и высококонтрастные изображения, формированные только прошедшими упругорассеянными электронами с нулевой потерей энергии, исключая влияние неупругорассеянных электронов. 
  • Изображения с фильтрацией по энергии, сформированные электронами с низкими потерями энергии или неупругорассеянными в результате взаимодействия с оболочками атомов, позволяют получать информацию о химическом составе образца.
  • Так же можно получать спектры элементов, входящих в состав образца.

далее


Jeol JSM-7800F

  • Сканирующий электронный микроскоп
  • Сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки Супер Гибридной Линза (SHL) для экстремально высокого разрешения
  • Разрешение: до 0.8нм
  • Увеличение: От ×25 до ×1 000 000 (SEM)

далее


Jeol JIB-4600FMultibeam

  • Двухлучевая ионно-электронная система
  • Гибридная система, сочетающая в себе высокоразрешающий РЭМ и систему со сфокусированным ионным пучком для микротравления (послойное травление образцов).
  • РЭМ позволяет позиционировать ионный пучок в место травления с высокой точностью и визуализировать процесс травления с разрешением до 1.2 нм.
  • Благодаря высокому току зонда (до 200 нА), прибор позволяет эффективно использовать приставки для микроанализа (ЭДС, ДОРЭ)

далее


Jeol JXA-8530F

  • Электронно-зондовый микроанализатор (EPMA)
  • Уникальный электронно-зондовый микроанализатор с катодом Шоттки для получения информации о химическом составе образца в произвольном участке с высочайшим разрешением.
  • Разрешение во вторичных электронах: 3нм
  • Увеличение в режиме сканирования до 300 000х

далее


Jeol JAMP-9500F

  • Оже-микроанализатор с термополевой электронной пушкой обеспечивают получение информации о химсоставе образцов из малого информационного объёма, что определяет их высокие показатели по пространственному разрешению. Преимущество Оже-электронных микроанализаторов заключается в возможности исследования одномерных нанообъектов, а именно тонких (вплоть до одного монослоя) пленок, а также весьма высокая локальность анализа в латеральном направлении. Данные приборы в массивных образцах обеспечивают получение информации по элементному и химическому составу в областях глубиной до 1 нм и диаметром около 8 нм.
  • Разрешение электронного пучка: до 3х нм
  • Диаметр зонда для Оже-микроанализа: 8нм
  • Увеличение от 25 до 500 000 крат

далее


Jeol JBX-Series

  • Cистема электронно-лучевой литографии
  • Высокоскоростные промышленные, а так же компактные (для мелкосерийного производства) системы электронно-лучевой литографии предназначены для производства субмикронных и наноразмерных полупроводниковых устройств.

далее

Scroll Up