Hitachi SU9000

  • Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения
  • Микроскоп SU9000 с холодным вольфрамовым катодом разрабатывался для достижения наивысшего разрешения
  • Этой модели принадлежит рекордное значение разрешения во вторичных электронах и в режиме работы на просвет
  • Конструкция интегрированного детектора отраженных и вторичных электронов позволяет одновременно выводить изображение, используя сигналы вторичных и отраженных электронов.
  • STEM-детектор (BF/DF DUO-STEM Detector, патент Hitachi) с изменяемым углом сбора электронов дает дополнительные возможности исследователю в формировании и оптимизации изображения.
  • Разрешение до 0.4нм в режиме для не прозрачных образцов и до 0.34 в режиме STEM
  • Перемещение образца Х:± 4,0, Y:± 2,0, Z:± 0,3
  • Наклон/вращение: ± 40°/360°

к списку

Scroll Up