FEI  PRISMA E SEM

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ (ДВУХЛУЧЕВОЙ) МИКРОСКОП

Академические и промышленные исследовательские лаборатории рассчитывают, что современный SEM должен иметь возможность получать большинство данных из самых разных образцов с отличным качеством изображения. Поскольку большинство лабораторий являются многопользовательскими объектами, простота использования имеет первостепенное значение для того, чтобы все данные были доступны для операторов различных уровней подготовки.

Микроскоп Prisma E SEM Thermo Fisher Scientific  –  это многофункциональный СЭМ для многоцелевых  лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой. Сканирующий электронный микроскоп Prisma E SEM обеспечивает превосходное разрешение. Также у данной модели имеются три режима работы: высокий вакуум, низкий вакуум и режим естественной среды ESEM ™. Они обеспечивают возможность исследования широкого диапазона образцов, включая образцы, которые дегазируют, не имеют напыления или не совместимы с вакуумом. Выбор детекторов (детектор направленного обратного рассеяния, STEM, катодолюминесценция и т. д.) обеспечивает всю необходимую информацию об образце. Одновременное получение и отображение сигналов детектора позволяет получить ответы в кратчайшие сроки. Кроме того, ESEM позволяет на месте исследовать образцы в реальных условиях, таких как влажные, горячие или реактивные среды. Микроскоп Prisma E SEM также имеет программное обеспечение для выполнения и управления динамическими экспериментами in-situ.

Нанохарактеризация

  • Металлы и сплавы, трещины, сварные швы, полированные секции, магнитные и сверхпроводящие материалы
  • Керамика, композиты, пластмассы
  • Пленки / покрытия
  • Геология, полезные ископаемые
  • Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, растительный материал
  • Частицы, пористые материалы, волокна

In-situ характеризация

  • Кристаллизация / фазовые изменения
  • Окисление, восстановление, катализ
  • Выращивание материала
  • Анализ гидратации / обезвоживания / смачивания / контактного угла
  • Прочность (с нагревом или охлаждением)

Технические характеристики

Электронная оптика

  • Высокоэффективная колона SEM с тепловой эмиссией с геомагнитной эмиссией с двойным анодом
  • Фиксированная объектная апертура для удобства работы
  • 45° геометрия объектива
  • Дифференциальная откачка через линзу способствует наиболее точному анализу и максимальному разрешению
  • Разрешение электронного пучка: От 3.0 нм при 30 kВ (SE)

к списку

Scroll Up