FEI  NOVANANO SEM

СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

Микроскопы линейки NovaNanoSEM отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.

Для расширения аналитических возможностей микроскоп может быть оснащен энергодисперсионным (EDS), волнодисперсионным спектрометрами (WDS), а также EBSD-системой, что  позволяют проводить качественный, количественный, фазовый и структурный анализ материала.

Nova NanoSEM 450 & 650
Разрешение, высокий вакуум15 кВ (TLD) 1 кВ (TLD, без BD)  
100 В (DBS)  
15 кВ, 5 нA
1.0 нм
1.4 нм
3.5 нм
3.0 нм
Разрешение, низкий вакуум3 кВ и 30 Па (Helix)1.8 нм
Ток лучаДо 200 нA
Диапазон напряжения на образцеОт 20 В до 30 кВ
СтоликX x Y x Z (мм)110 x 110 x 25
150 x 150 x 10

к списку

Scroll Up