Zeiss Xradia 810 Ultra

Рентгеновский промышленный микроскоп

  • Уникальное разрешение до 50нм (при увеличение 800x) в лабораторных условиях без использования синхротронного излучения
  • Неразрушающая система трехмерной визуализации с помощью рентгеновского излучения позволяет получать повторные изображения одного и того же образца при различных условиях
  • Размер образца 12х10х12мм
  • Переключаемое поле зрения в диапазоне от 15 до 60 мкм
  • Расширенный анализ в материаловедении: характеризация композитов и других функциональных материалов, исследование пористости, трещин, распределения фазы
  • Пакет программ для факторного анализа полупроводников
  • Оптимизация процессов и определение дефектов на уровне пластины (TSV), МЭМС или реверс-инжиниринг схем.

к списку

Scroll Up