Bruker Corporation

Bruker D8 FABLINE

  • Дифрактометр разработан для контроля качества полупроводниковых пластин. Комбинация из высокоразрешающего рентгенодифракционного анализа + отражательной рентгеновской микроскопии + микро рентгенфлуоресцентного анализа и дифракции под скользящими углами
  • Позволяет контролировать такие параметры как
    • Толщину пленки
    • Химический состав
    • Шероховатость
    • Плотность слоев
    • Пористость
    • Кристаллическую структуру
    • Степень релаксации
    • Ориентацию
    • Исследовать остаточные напряжения

далее


Bruker ContourSP 

  • Промышленный оптический профилометр
  • Диапазон измерения по вертикали от 0.1 до 10мм
  • Разрешение по вертикали 0.1нм
  • Повторяемость 0.01нм

далее


Bruker Dektak XTL

  • Промышленный зондовый профилометр
  • Зондовый датчик (контактные измерения)
  • 2D/3D восстановления профиля
  • Поле обзора
    • Боковая камера 2.5мм x 4.25мм
    • Верхняя камера 11.5мм х 15.5мм

далее


Bruker Nanostar

  • Система малоуглового рентгеновского рассеяния
  • Является надежным, экономичным и неразрушающим методом анализа наноструктурированных материалов, предоставляющим информацию о размере частиц и распределении частиц по размерам от 1 до 100 нм, форме и распределении осей ориентации в образцах жидкостей, порошков и объемных образцах.
  • Диапазон перемещения образца 130х80мм
  • Возможность охлаждения до -30С и нагрева до 300С

далее

Scroll Up